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Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

  • 更新時間:  2022-09-23
  • 產品型號:  16830
  • 簡單描述
  • 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統,可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能
詳細介紹(shao)

 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔(ba)出(chu)極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出(chu)極(ji)

1058129   拔出(chu)極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超(chao)高(gao)分辨率的分析 聚焦離子(zi)(zi)束掃描電子(zi)(zi)顯(xian)微鏡 (FIB-SEM) 系統,可(ke)為包(bao)括磁(ci)性和非導電材(cai)料在內的各(ge)種樣品提供出色(se)的樣品制備與(yu) 3D 表征(zheng)性能 。Scios 2 DualBeam 通(tong)過創新的功能設計提高(gao)了通(tong)量、精度以及(ji)(ji)易(yi)用性,是滿(man)足科學(xue)家和工程師在學(xue)術、政府以及(ji)(ji)工業研究領(ling)域高(gao)級研究和分析需(xu)求(qiu)的理想解決方案。

高質量亞表面(mian)和 3D 信息

通常需要進(jin)行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構(gou)和(he)性質。Scios 2 DualBeam 及可(ke)選配(pei)的(de) Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件(jian)可(ke)提供高質(zhi)量、全自動的(de)多模式 3D 數據集采集,包括用(yong)于最大材料對比度的(de)背(bei)(bei)散射電(dian)子 (BSE) 成像(xiang)、用(yong)于組成信息的(de)能量色散光譜 (EDS) 以及用(yong)于微觀結(jie)構和晶體學(xue)信息的(de)電(dian)子背(bei)(bei)散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件(jian)組合使用(yong)后,Scios 2 DualBeam 可(ke)為(wei)納米級(ji)的(de)高分(fen)辨率、高級(ji) 3D 表征以及分(fen)析提供的工作(zuo)流(liu)程(cheng)解決方案。

以超高分辨率提供完整的樣品信息

創新的 NICol 電(dian)子(zi)色(se)譜柱為系統(tong)的(de)高分(fen)辨率成像和檢(jian)測能(neng)力提供了基礎。它適用(yong)于多種工作條件,無論是在 30 keV 的(de) STEM 模式下(訪(fang)(fang)問(wen)(wen)(wen)結(jie)(jie)構信息(xi))還(huan)是以(yi)較低能(neng)量(liang)(liang)(獲得無電(dian)荷(he)的(de)詳細(xi)表面信息(xi))運行,都可(ke)以(yi)提供出色(se)的(de)納米級細(xi)節。Scios 2 DualBeam 具(ju)有(you)的(de)鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢(jian)測系統(tong),專用(yong)于同(tong)時采集角和能(neng)量(liang)(liang)選(xuan)(xuan)擇二級電(dian)子(zi) (SE) 以(yi)及 BSE 成像數據(ju)。不僅(jin)可(ke)以(yi)快速訪(fang)(fang)問(wen)(wen)(wen)從上(shang)到下的(de)詳細(xi)納米級信息(xi),還(huan)可(ke)快速訪(fang)(fang)問(wen)(wen)(wen)傾斜的(de)樣品(pin)或交叉(cha)切(qie)片的(de)信息(xi)。可(ke)選(xuan)(xuan)配(pei)的(de)透鏡下檢(jian)測器和電(dian)子(zi)束減速模式可(ke)以(yi)快速、便捷地(di)同(tong)時采集所(suo)有(you)信號,揭(jie)示材料表面或交叉(cha)切(qie)片中最(zui)小的(de)特(te)征(zheng)。具(ju)有(you)全自動對齊功能(neng)的(de) NICol 色(se)譜柱,可(ke)獲得快速、準確、可(ke)重(zhong)現的(de)結(jie)(jie)果(guo)。

快(kuai)速、便捷(jie)地制備高質量 TEM 樣品

科學家(jia)和工(gong)程師不斷面臨新的挑戰、需要對越來越復雜的樣(yang)品的更小特征(zheng)進行高(gao)度局部表征(zheng)。Scios 2 DualBeam 的(de)(de)創新與可(ke)選、易用(yong)(yong)和全面(mian)的(de)(de) Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以(yi)及(ji)賽默飛世爾科技的(de)(de)應用(yong)(yong)專業(ye)知識相結合后,可(ke)支持客戶快速方(fang)便地制(zhi)備用(yong)(yong)于多種(zhong)材料(liao)的(de)(de) 自定(ding)義高(gao)分(fen)辨率 S/TEM 樣品。為了(le)獲得高(gao)質量結果,需要使用(yong)(yong)低能量離(li)(li)子進行最終拋光(guang),以(yi)盡可(ke)能減少(shao)對樣品表面(mian)的(de)(de)損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離(li)(li)子束 (FIB) 鏡筒不僅(jin)能夠在(zai)高(gao)電壓下具有(you)高(gao)分(fen)辨率成像和銑(xian)削能力,還具有(you)良(liang)好的(de)(de)低電壓性(xing)能,能夠創建(jian)高(gao)質量的(de)(de) TEM 薄片。

16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

主要特(te)點

快速、便捷(jie)的(de)制(zhi)備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得(de)高質量、現場特(te)定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在廣泛的樣品范圍(包括磁性和非導電材料)內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電(dian)子色(se)譜柱。

最(zui)完整的樣(yang)品信息

通過各種集成式(shi)色譜柱內和(he)透(tou)鏡下檢測器獲得清晰、精確和(he)無電荷的(de)對比度(du)。

高質(zhi)量、多(duo)模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件,通過精確靶向感興趣區域來獲得高質量、多模式亞(ya)表面和 3D 信息。

精確(que)的(de)樣品導航

高度靈活的 110 mm 載物臺和腔(qiang)室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體(ti)應用(yong)需求(qiu)進行定制。

無(wu)偽影成像和構(gou)成圖案

具有專(zhuan)用模式(shi),如 DCFI、漂移(yi)抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式(shi)。

優化(hua)您的解決方案(an)

靈活的 DualBeam 配(pei)置,包括可選配(pei)的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式,可滿(man)足具(ju)體的應(ying)用(yong)要求(qiu)。

 




規格

電(dian)子束分辨率

· 最佳 WD

30 keV STEM 下為 0.7 nm

1 keV 下為 1.4 nm

1 keV(射束(shu)減速(su))下為 1.2 nm

電子束參數(shu)空間(jian)

· 電子束(shu)電流范圍:1 pA 至 400 nA

· 著陸能(neng)量(liang)范圍:20* eV – 30 keV

· 加速(su)電壓范圍(wei):200 V – 30 kV

· 最大水平(ping)射(she)野(ye)寬(kuan)度:7 mm WD 時為 3.0 mm,60 mm WD 時為 7.0 mm

· 可通過標準(zhun)導航剪(jian)輯提供超寬(kuan)視(shi)野 (1×)

離子光學系統

· 加速電壓:500 V – 30 kV

· 電子(zi)束電流范(fan)圍:1.5 pA – 65 nA

· 15 位置(zhi)光闌條

· 漂移抑制(zhi)模式(shi),為非導電樣品的標準模式(shi)

· 最小離子源壽(shou)命(ming):1,000 小時

· 離(li)子束分辨率:選擇(ze)角方(fang)法(fa)下 30kV 時為 3.0 nm

檢(jian)測(ce)器

· Trinity 檢測(ce)系(xi)統(鏡筒(tong)內(nei)和色譜柱內(nei))

T1 分段式下(xia)鏡筒內檢測器(qi)

T2 上鏡筒內檢(jian)測器

T3 可(ke)伸縮色譜(pu)柱內檢測器(qi)(可(ke)選配)

多達 4 個同時檢測的信(xin)號

· Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD)

· 用于二級離子 (SI) 和二(er)級電子 (SE) 的(de)高性(xing)能(neng)離(li)子轉換和電子檢測器 (ICE)(可(ke)選配(pei))

· 可伸(shen)縮、低電壓(ya)、高對比度、分段式(shi)、固(gu)態反向散射(she)電子檢測器 (DBS)(可選(xuan)配)

·  BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器(可選配)

· 查看(kan)樣品和腔(qiang)室的(de) IR 攝(she)像(xiang)機

· 腔室(shi)內 Nav-Cam 樣品導航攝像機(可選配)

· 集成的光束電流(liu)測量(liang)

載物臺和樣品(pin)

靈活(huo)的 5 軸電動(dong)平(ping)臺:

· XY 范圍:110 mm

· Z 范圍:65 mm

· 旋轉:360°(無限)

· 傾斜范(fan)圍:-15° 至 +90°

· XY 重復性:3 μm

· 最大樣品高度:與共心點間距 85 mm

· 0° 傾斜時的最大(da)樣(yang)品重量(liang):5 kg (包括樣(yang)品架)

· 最大樣(yang)品尺寸:*旋轉時 110 mm(也可以是更大的樣品,但(dan)旋(xuan)轉有限)

· 計(ji)算中心旋轉和傾斜

 




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